Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Polarity of semipolar wurtzite crystals: X-ray photoelectron diffraction from GaN{10-11} and GaN{20-21} surfaces

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00432694" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00432694 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4894708" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4894708</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4894708" target="_blank" >10.1063/1.4894708</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Polarity of semipolar wurtzite crystals: X-ray photoelectron diffraction from GaN{10-11} and GaN{20-21} surfaces

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Polarity of semipolar GaN(10-11)?(10-1-1) and GaN(20-21),?(20-2-1) surfaces was determined with X-ray photoelectron diffraction (XPD) using a standard MgK? source. The photoelectron emission from N 1s core level measured in the a-plane of the crystals shows significant differences for the two crystal orientations within the polar angle range of 80?100° from the <0001> normal. It was demonstrated that XPD polar plots recorded in the a-plane are similar for each polarity of the GaN{10-11} and GaN{20-21} crystals if referred to <0001> crystal axes. For polarity determinations of all important GaN{h0-hl} semipolar surfaces, the above given polar angle range is suitable.

  • Název v anglickém jazyce

    Polarity of semipolar wurtzite crystals: X-ray photoelectron diffraction from GaN{10-11} and GaN{20-21} surfaces

  • Popis výsledku anglicky

    Polarity of semipolar GaN(10-11)?(10-1-1) and GaN(20-21),?(20-2-1) surfaces was determined with X-ray photoelectron diffraction (XPD) using a standard MgK? source. The photoelectron emission from N 1s core level measured in the a-plane of the crystals shows significant differences for the two crystal orientations within the polar angle range of 80?100° from the <0001> normal. It was demonstrated that XPD polar plots recorded in the a-plane are similar for each polarity of the GaN{10-11} and GaN{20-21} crystals if referred to <0001> crystal axes. For polarity determinations of all important GaN{h0-hl} semipolar surfaces, the above given polar angle range is suitable.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Applied Physics

  • ISSN

    0021-8979

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    116

  • Číslo periodika v rámci svazku

    10

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    "104909-1"-"104909-6"

  • Kód UT WoS článku

    000342833700083

  • EID výsledku v databázi Scopus