Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The optical spectra of carbon-based thin films measured by the photothermal deflection spectroscopy (PDS)

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00425104" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00425104 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The optical spectra of carbon-based thin films measured by the photothermal deflection spectroscopy (PDS)

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Our photothermal deflection spectroscopy (PDS) setup allows to measure simultaneously the absolute values of the optical transmittance T, reflectance R and absorptance A spectra of thin layers on glass substrates in the spectral range from ultraviolet to near infrared light with the typical spectral resolution 5 nm in the ultraviolet, 10 nm in visible and 20 nm in the near infrared region. The PDS setup provides the dynamic detection range in the optical absorptance up to 4 orders of magnitude. Here we demonstrate the usability of this setup by comparing the optical absorbance on a series of the carbon layer and nanocrystalline diamond (NCD) thin layers deposited on glass substrates by using the magnetron sputtering and the microwave based surface wave discharge in linear antenna chemical vapor deposition (CVD) processes, respectively. The defect-induced localized states in the energy gap are observed in all carbon layers as well as in NCD.

  • Název v anglickém jazyce

    The optical spectra of carbon-based thin films measured by the photothermal deflection spectroscopy (PDS)

  • Popis výsledku anglicky

    Our photothermal deflection spectroscopy (PDS) setup allows to measure simultaneously the absolute values of the optical transmittance T, reflectance R and absorptance A spectra of thin layers on glass substrates in the spectral range from ultraviolet to near infrared light with the typical spectral resolution 5 nm in the ultraviolet, 10 nm in visible and 20 nm in the near infrared region. The PDS setup provides the dynamic detection range in the optical absorptance up to 4 orders of magnitude. Here we demonstrate the usability of this setup by comparing the optical absorbance on a series of the carbon layer and nanocrystalline diamond (NCD) thin layers deposited on glass substrates by using the magnetron sputtering and the microwave based surface wave discharge in linear antenna chemical vapor deposition (CVD) processes, respectively. The defect-induced localized states in the energy gap are observed in all carbon layers as well as in NCD.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings

  • ISBN

    978-80-87294-47-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    405-409

  • Název nakladatele

    TANGER Ltd

  • Místo vydání

    Ostrava

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    16. 10. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000352070900071