X-ray analysis of fully depleted CCDs with small pixel size

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00485376" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00485376 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2054122" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2054122</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2054122" target="_blank" >10.1117/12.2054122</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray analysis of fully depleted CCDs with small pixel size

Popis výsledku v původním jazyce

X-rays frames offer a lot of information about CCD. 55Fe sources are traditionally being used for CCD gain and charge transfer efficiency (CTE) measurements. The pixel size of modern scientific CCDs is getting smaller. The charge diffusion causes the charge spread among neighboring pixels especially in thick fully depleted sensors. This enables measurement of the charge diffusion using 55Fe X-rays. A new way of measuring CTE using shape and amplitude analysis of X-ray clusters is presented and discussed. The details of our measurement procedure are presented. The lateral diffusion measured using e2v CCD250 is presented and implications for X-ray cluster size and expected cluster shape are discussed. The CTE analysis using total X-ray cluster amplitude is presented. This analysis can reveal CTE problems for certain conditions.n

Název v anglickém jazyce

X-ray analysis of fully depleted CCDs with small pixel size

Popis výsledku anglicky

X-rays frames offer a lot of information about CCD. 55Fe sources are traditionally being used for CCD gain and charge transfer efficiency (CTE) measurements. The pixel size of modern scientific CCDs is getting smaller. The charge diffusion causes the charge spread among neighboring pixels especially in thick fully depleted sensors. This enables measurement of the charge diffusion using 55Fe X-rays. A new way of measuring CTE using shape and amplitude analysis of X-ray clusters is presented and discussed. The details of our measurement procedure are presented. The lateral diffusion measured using e2v CCD250 is presented and implications for X-ray cluster size and expected cluster shape are discussed. The CTE analysis using total X-ray cluster amplitude is presented. This analysis can reveal CTE problems for certain conditions.n

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

10308 - Astronomy (including astrophysics,space science)

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy VI

ISBN

978-0-8194-9622-5

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Montreal

Datum konání akce

22. 6. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000354528900014