Monte-Carlo simulation of charge sharing in 2 mm thick pixelated CdTe sensor

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F23%3A00365872" target="_blank" >RIV/68407700:21230/23:00365872 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21340/23:00365872

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02033" target="_blank" >https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02033</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02033" target="_blank" >10.1088/1748-0221/18/02/C02033</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Monte-Carlo simulation of charge sharing in 2 mm thick pixelated CdTe sensor

Popis výsledku v původním jazyce

Precise physical models of sensors are essential for developing high precision pixelated detectors. Advanced technologies allowed pixel electronics to be integrated in tens of micrometers pixel pitch. Such fine pixelated detectors suffer from charge sharing effect and, in high-Z materials, also from fluorescent photons traversing one or more pixels. This work presents a Monte-Carlo model of a 2 mm thick 70 μm pitch pixelated CdTe sensor designed for simulation of the absorption of X-ray photons from monochromatic X-ray photon beams. Charge diffusion across a pixel matrix was computed using a drift-diffusion model for each photon generating free electron-hole pairs. Based on the simulation outcome, we estimated the dependence of cluster size on photon energy and total charge distribution between neighboring pixels.

Název v anglickém jazyce

Monte-Carlo simulation of charge sharing in 2 mm thick pixelated CdTe sensor

Popis výsledku anglicky

Precise physical models of sensors are essential for developing high precision pixelated detectors. Advanced technologies allowed pixel electronics to be integrated in tens of micrometers pixel pitch. Such fine pixelated detectors suffer from charge sharing effect and, in high-Z materials, also from fluorescent photons traversing one or more pixels. This work presents a Monte-Carlo model of a 2 mm thick 70 μm pitch pixelated CdTe sensor designed for simulation of the absorption of X-ray photons from monochromatic X-ray photon beams. Charge diffusion across a pixel matrix was computed using a drift-diffusion model for each photon generating free electron-hole pairs. Based on the simulation outcome, we estimated the dependence of cluster size on photon energy and total charge distribution between neighboring pixels.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10301 - Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)

Projekt

<a href="/cs/project/EF16_019%2F0000778" target="_blank" >EF16_019/0000778: Centrum pokročilých aplikovaných přírodních věd</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Instrumentation

ISSN

1748-0221

e-ISSN

1748-0221

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000937326900002

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85148718117