Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00450842" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00450842 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.2478/jee-2015-0036" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.2478/jee-2015-0036</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.2478/jee-2015-0036" target="_blank" >10.2478/jee-2015-0036</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy
Popis výsledku v původním jazyce
The paper reports on a non-destructive method of reliability prediction for semiconductor lasers diodes GaSb based VCSE (vertical cavity surface emitting). Transport and noise characteristic of forward biased were measured in order to evaluate the new MBE (molecular beam epitaxy) technology. The results demonstrate that the lasers prepared by new MBE technology have higher quality than the samples prepared by using the classic MBE technology.
Název v anglickém jazyce
Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy
Popis výsledku anglicky
The paper reports on a non-destructive method of reliability prediction for semiconductor lasers diodes GaSb based VCSE (vertical cavity surface emitting). Transport and noise characteristic of forward biased were measured in order to evaluate the new MBE (molecular beam epitaxy) technology. The results demonstrate that the lasers prepared by new MBE technology have higher quality than the samples prepared by using the classic MBE technology.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electrical Engineering
ISSN
0013-578X
e-ISSN
—
Svazek periodika
66
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
226-230
Kód UT WoS článku
000362388800006
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84940853519