Polarized Raman scattering study of PSN single crystals and epitaxial thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00451192" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00451192 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1142/S2010135X15500137" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1142/S2010135X15500137</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1142/S2010135X15500137" target="_blank" >10.1142/S2010135X15500137</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Polarized Raman scattering study of PSN single crystals and epitaxial thin films
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes a detailed analysis of the dependence of Raman scattering intensity on the polarization of the incident and inelastically scattered light in PbSc0.5Nb0.5O3 (PSN) single crystals and epitaxially compressed thin films grown on (100)-oriented MgO substrates. It is found that there are significant differences between the properties of the crystals and films, and that these differences can be attributed to the anticipated structural differences between these two forms of the same material. In particular, the scattering characteristics of the oxygen octahedra breathing mode near 810 cm-1 indicate a ferroelectric state for the crystals and a relaxor state for the films, which is consistent with the dielectric behaviors of these materials.
Název v anglickém jazyce
Polarized Raman scattering study of PSN single crystals and epitaxial thin films
Popis výsledku anglicky
This paper describes a detailed analysis of the dependence of Raman scattering intensity on the polarization of the incident and inelastically scattered light in PbSc0.5Nb0.5O3 (PSN) single crystals and epitaxially compressed thin films grown on (100)-oriented MgO substrates. It is found that there are significant differences between the properties of the crystals and films, and that these differences can be attributed to the anticipated structural differences between these two forms of the same material. In particular, the scattering characteristics of the oxygen octahedra breathing mode near 810 cm-1 indicate a ferroelectric state for the crystals and a relaxor state for the films, which is consistent with the dielectric behaviors of these materials.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Advanced Dielectrics
ISSN
2010-135X
e-ISSN
—
Svazek periodika
5
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
SG - Singapurská republika
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
"1550013-1"-"1550013-6"
Kód UT WoS článku
000359947600007
EID výsledku v databázi Scopus
—