Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Graphene on SiC (0001) inspected by dynamic atomic force microscopy at room temperature

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00456224" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00456224 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21340/15:00369808

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.93" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.93</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.93" target="_blank" >10.3762/bjnano.6.93</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Graphene on SiC (0001) inspected by dynamic atomic force microscopy at room temperature

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We investigated single-layer graphene on SiC (0001) by atomic force and tunneling current microscopy, to separate the topographic and electronic contributions from the overall landscape. The analysis revealed that the roughness evaluated from the atomicforce maps is very low, in accord with theoretical simulations. We also observed that characteristic electron scattering effects on graphene edges and defects are not accompanied by any out- of-plane relaxations of carbon atoms.

  • Název v anglickém jazyce

    Graphene on SiC (0001) inspected by dynamic atomic force microscopy at room temperature

  • Popis výsledku anglicky

    We investigated single-layer graphene on SiC (0001) by atomic force and tunneling current microscopy, to separate the topographic and electronic contributions from the overall landscape. The analysis revealed that the roughness evaluated from the atomicforce maps is very low, in accord with theoretical simulations. We also observed that characteristic electron scattering effects on graphene edges and defects are not accompanied by any out- of-plane relaxations of carbon atoms.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Beilstein Journal of Nanotechnology

  • ISSN

    2190-4286

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    6

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Apr

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    901-906

  • Kód UT WoS článku

    000352592200002

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84933052815