Temperature-dependent stress in diamond-coated AlGaN/GaN heterostructures
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00464052" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00464052 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matdes.2016.06.006" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.matdes.2016.06.006</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matdes.2016.06.006" target="_blank" >10.1016/j.matdes.2016.06.006</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Temperature-dependent stress in diamond-coated AlGaN/GaN heterostructures
Popis výsledku v původním jazyce
In this study, we present a methodology for evaluation of thermally induced stress in diamond microstructures. The diamond strips (2 mm in width and 0.78 or 2.8 μm in thickness) were selectively grown on AlGaN/GaN heterostructures. The stress was evaluated from the Raman shift of the diamond peak position within the temperature range from 50 to 400°C. The shift was measured at two positions, i.e. at center and edge of the strip. We observed that for temperature increase from 50 to 400°C the difference between stresses evaluated at the center and edge of diamond strip (stress) decreases from 0.27 to 0.18 GPa and from 0.32 to 0.1 GPa for the thinner and thicker diamond films, respectively. Experimental data were compared with FEM simulations. The simulations fitted well to experimental data and confirmed that the stress difference between the center and edge of diamond strip was caused by thermal stress component.n
Název v anglickém jazyce
Temperature-dependent stress in diamond-coated AlGaN/GaN heterostructures
Popis výsledku anglicky
In this study, we present a methodology for evaluation of thermally induced stress in diamond microstructures. The diamond strips (2 mm in width and 0.78 or 2.8 μm in thickness) were selectively grown on AlGaN/GaN heterostructures. The stress was evaluated from the Raman shift of the diamond peak position within the temperature range from 50 to 400°C. The shift was measured at two positions, i.e. at center and edge of the strip. We observed that for temperature increase from 50 to 400°C the difference between stresses evaluated at the center and edge of diamond strip (stress) decreases from 0.27 to 0.18 GPa and from 0.32 to 0.1 GPa for the thinner and thicker diamond films, respectively. Experimental data were compared with FEM simulations. The simulations fitted well to experimental data and confirmed that the stress difference between the center and edge of diamond strip was caused by thermal stress component.n
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GP14-16549P" target="_blank" >GP14-16549P: Ladění elektrických vlastností hybridních struktur diamantu a galium nitridu řízenou optimalizací vnitřních pnutí</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials and Design
ISSN
0264-1275
e-ISSN
—
Svazek periodika
106
Číslo periodika v rámci svazku
Sep
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
305-312
Kód UT WoS článku
000381528900035
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84989924930