Characterization of nanotransistors in a semiempirical model
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00464073" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00464073 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.09.041" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.09.041</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.09.041" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2015.09.041</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of nanotransistors in a semiempirical model
Popis výsledku v původním jazyce
A semi-empirical model for quantum transport in a nano-transistor is applied to characterize various industrial transistors with gate lengths ranging between 22 nm and 30 nm.
Název v anglickém jazyce
Characterization of nanotransistors in a semiempirical model
Popis výsledku anglicky
A semi-empirical model for quantum transport in a nano-transistor is applied to characterize various industrial transistors with gate lengths ranging between 22 nm and 30 nm.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Thin Solid Films
ISSN
0040-6090
e-ISSN
—
Svazek periodika
613
Číslo periodika v rámci svazku
Aug
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
6-10
Kód UT WoS článku
000381031000013
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84945908018