Optical properties of the plasma hydrogenated ZnO thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00481245" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00481245 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1515/jee-2017-0060" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1515/jee-2017-0060</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1515/jee-2017-0060" target="_blank" >10.1515/jee-2017-0060</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical properties of the plasma hydrogenated ZnO thin films
Popis výsledku v původním jazyce
We have optimized the deposition of the highly electrically resistive undoped polycrystalline ZnO thin layers on fused silica substrates by the DC reactive magnetron sputtering of metallic zinc target in argonne/oxide atmosphere and we introduced the postdeposition hydrogen plasma doping. The thickness of thin film was evaluated by reflectance interferometry using the metallographic optical microscope fiber coupled to the CCD spectrometer operating in 400 to 1000 nm spectral range. The optical absorption was measured by photothermal deflection spectroscopy operating in 300 - 1600 nm spectral range. The change of the optical absorption edge and the increase of the infrared optical absorption was detected in hydrogenated ZnO. The increase of the infrared optical absorption goes with the increase of the electrical conductivity. We conclude that the plasma hydrogenation of the intrinsic ZnO thin films is related to increase of the free carrier concentration.n
Název v anglickém jazyce
Optical properties of the plasma hydrogenated ZnO thin films
Popis výsledku anglicky
We have optimized the deposition of the highly electrically resistive undoped polycrystalline ZnO thin layers on fused silica substrates by the DC reactive magnetron sputtering of metallic zinc target in argonne/oxide atmosphere and we introduced the postdeposition hydrogen plasma doping. The thickness of thin film was evaluated by reflectance interferometry using the metallographic optical microscope fiber coupled to the CCD spectrometer operating in 400 to 1000 nm spectral range. The optical absorption was measured by photothermal deflection spectroscopy operating in 300 - 1600 nm spectral range. The change of the optical absorption edge and the increase of the infrared optical absorption was detected in hydrogenated ZnO. The increase of the infrared optical absorption goes with the increase of the electrical conductivity. We conclude that the plasma hydrogenation of the intrinsic ZnO thin films is related to increase of the free carrier concentration.n
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GC16-10429J" target="_blank" >GC16-10429J: Optické, elektrické a magnetické vlastnosti ZnO nanostruktur</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis
ISSN
1335-3632
e-ISSN
—
Svazek periodika
68
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
SK - Slovenská republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
70-73
Kód UT WoS článku
000423262300014
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85040807874