Precession electron diffraction tomography on twinned crystals: application to CaTiO3 thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F19%3A00519115" target="_blank" >RIV/68378271:_____/19:00519115 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1107/s1600576719005569" target="_blank" >https://doi.org/10.1107/s1600576719005569</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576719005569" target="_blank" >10.1107/S1600576719005569</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Precession electron diffraction tomography on twinned crystals: application to CaTiO3 thin films
Popis výsledku v původním jazyce
Strain engineering via epitaxial thin-film synthesis is an efficient way to modify the crystal structure of a material in order to induce new features or improve existing properties. This past decade, precession electron diffraction tomography has emerged as a relevant technique for the structural characterization of nano-sized materials. While its usefulness has already been demonstrated for solving the unknown structure of materials deposited in the form of thin films, the frequent existence of orientation variants within the film introduces a severe bias in the structure refinement. This is il lustrated here using CaTiO3 films deposited on SrTiO3 substrates as a case study. By taking into account twinning in the structural analysis, it is shown that the structure of the CaTiO3 films can be refined with an accuracy comparable to that obtained by dynamical refinement from non-twinned data.
Název v anglickém jazyce
Precession electron diffraction tomography on twinned crystals: application to CaTiO3 thin films
Popis výsledku anglicky
Strain engineering via epitaxial thin-film synthesis is an efficient way to modify the crystal structure of a material in order to induce new features or improve existing properties. This past decade, precession electron diffraction tomography has emerged as a relevant technique for the structural characterization of nano-sized materials. While its usefulness has already been demonstrated for solving the unknown structure of materials deposited in the form of thin films, the frequent existence of orientation variants within the film introduces a severe bias in the structure refinement. This is il lustrated here using CaTiO3 films deposited on SrTiO3 substrates as a case study. By taking into account twinning in the structural analysis, it is shown that the structure of the CaTiO3 films can be refined with an accuracy comparable to that obtained by dynamical refinement from non-twinned data.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Crystallography
ISSN
0021-8898
e-ISSN
—
Svazek periodika
52
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
11
Strana od-do
626-636
Kód UT WoS článku
000470824800015
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85066833790