Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Laser induced damage threshold of silicon with native and artificial SiO2 layer

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F19%3A00538876" target="_blank" >RIV/68378271:_____/19:00538876 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://hdl.handle.net/11104/0316619" target="_blank" >http://hdl.handle.net/11104/0316619</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.17973/MMSJ.2019_12_2019103" target="_blank" >10.17973/MMSJ.2019_12_2019103</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Laser induced damage threshold of silicon with native and artificial SiO2 layer

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Spot size measurements of a 260 fs, 1030 nm focused spatially Gaussian pulsed laser beam were performed on a Silicon surface with native and thermally grown SiO2 layers using a widely known method of evaluating laser beam energy dependent damage area. Single pulse laser induced damage thresholds of both samples were also measured. Modification of the thermally grown SiO2 layer was analyzed in detail using optical, confocal and scanning electron microscopy. Restrictions in Gaussian beam spot size measurements on the samples with transparent coatings and several observable thresholds are discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Laser induced damage threshold of silicon with native and artificial SiO2 layer

  • Popis výsledku anglicky

    Spot size measurements of a 260 fs, 1030 nm focused spatially Gaussian pulsed laser beam were performed on a Silicon surface with native and thermally grown SiO2 layers using a widely known method of evaluating laser beam energy dependent damage area. Single pulse laser induced damage thresholds of both samples were also measured. Modification of the thermally grown SiO2 layer was analyzed in detail using optical, confocal and scanning electron microscopy. Restrictions in Gaussian beam spot size measurements on the samples with transparent coatings and several observable thresholds are discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1602" target="_blank" >LO1602: HiLASE: Superlasery pro reálný svět</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    MM Science Journal

  • ISSN

    1803-1269

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2019

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Dec

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    3579-3584

  • Kód UT WoS článku

    000532572200029

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85076600420