Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Intensity distribution modulation of multiple beam interference pattern

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F19%3A00567486" target="_blank" >RIV/68378271:_____/19:00567486 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21340/19:00340453

  • Výsledek na webu

    <a href="https://hdl.handle.net/11104/0338735" target="_blank" >https://hdl.handle.net/11104/0338735</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.17973/MMSJ.2019_12_2019117" target="_blank" >10.17973/MMSJ.2019_12_2019117</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Intensity distribution modulation of multiple beam interference pattern

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Nanostructuring and microstructuring approaches frequently used in microelectronics manufacturing, such as electron beam lithography or nanoimprint lithography,are considerably slow.In order to reduce processing time,laser patterning methods based on interference of multiple beams have been developed.Within one laser pulse,a significant part of an irradiated area on a sample surface is patterned with desired micro- or sub-microstructures.Interference patterning goes beyond periodic lines and dots.Controlling the number of interfering beams,orientation of polarization vectors,relative phase shift,the beam angle of incidence allows to customize the intensity distribution on the sample surface.Simulations of various interference patterns were verified on CMOS camera using 1030nm laser diode.Based on these results,dot and line-like interference patterns were directly imprinted on the surface of carbon fiber reinforced polyether ether ketone plate by 1.8ps,11mJ las. pulses at 1030nm.

  • Název v anglickém jazyce

    Intensity distribution modulation of multiple beam interference pattern

  • Popis výsledku anglicky

    Nanostructuring and microstructuring approaches frequently used in microelectronics manufacturing, such as electron beam lithography or nanoimprint lithography,are considerably slow.In order to reduce processing time,laser patterning methods based on interference of multiple beams have been developed.Within one laser pulse,a significant part of an irradiated area on a sample surface is patterned with desired micro- or sub-microstructures.Interference patterning goes beyond periodic lines and dots.Controlling the number of interfering beams,orientation of polarization vectors,relative phase shift,the beam angle of incidence allows to customize the intensity distribution on the sample surface.Simulations of various interference patterns were verified on CMOS camera using 1030nm laser diode.Based on these results,dot and line-like interference patterns were directly imprinted on the surface of carbon fiber reinforced polyether ether ketone plate by 1.8ps,11mJ las. pulses at 1030nm.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    MM Science Journal

  • ISSN

    1803-1269

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2019

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Dec

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    3652-3656

  • Kód UT WoS článku

    000532572200043

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85076599510