Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F20%3A00568882" target="_blank" >RIV/68378271:_____/20:00568882 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://hdl.handle.net/11104/0340160" target="_blank" >https://hdl.handle.net/11104/0340160</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139580" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2022.139580</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

Popis výsledku v původním jazyce

This paper discusses the fundamentals, applications, potential and limitations of polarized light reflection techniques for the characterization of phase-change materials (PCMs). These techniques include spectroscopic ellipsometry, time-resolved ellipsometry and imaging ellipsometry as well as polarimetry. We explore the ca-pabilities of spectroscopic ellipsometry in the determination of the extinction coefficient of PCMs and the ca-pabilities of imaging ellipsometry to characterize PCMs. We show that ellipsometry is capable of more than the determination of thickness and optical properties, and it can be exploited to gain information about crystalli-zation/amorphization kinetics and mapping anisotropies.

Název v anglickém jazyce

Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

Popis výsledku anglicky

This paper discusses the fundamentals, applications, potential and limitations of polarized light reflection techniques for the characterization of phase-change materials (PCMs). These techniques include spectroscopic ellipsometry, time-resolved ellipsometry and imaging ellipsometry as well as polarimetry. We explore the ca-pabilities of spectroscopic ellipsometry in the determination of the extinction coefficient of PCMs and the ca-pabilities of imaging ellipsometry to characterize PCMs. We show that ellipsometry is capable of more than the determination of thickness and optical properties, and it can be exploited to gain information about crystalli-zation/amorphization kinetics and mapping anisotropies.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10303 - Particles and field physics

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2020

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

1879-2731

Svazek periodika

763

Číslo periodika v rámci svazku

DEC

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

139580

Kód UT WoS článku

000886765500007

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85141530202