General overview of GaN devices and transport properties of AlGaN/GaN HEMT structures - impact of dislocation density and improved design
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F21%3A00561007" target="_blank" >RIV/68378271:_____/21:00561007 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.confer.cz/nanocon/2021/4309-general-over-view-of-gan-devices-and-transport-properties-of-algan-gan-hemt-structures-impact-of-dislocation-density-and-improved-design" target="_blank" >https://www.confer.cz/nanocon/2021/4309-general-over-view-of-gan-devices-and-transport-properties-of-algan-gan-hemt-structures-impact-of-dislocation-density-and-improved-design</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.37904/nanocon.2021.4309" target="_blank" >10.37904/nanocon.2021.4309</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
General overview of GaN devices and transport properties of AlGaN/GaN HEMT structures - impact of dislocation density and improved design
Popis výsledku v původním jazyce
GaN-based nanostructures are used for many present semiconductor devices. The main topics are structures for blue LEDs and LDs, but there are also other interesting and important GaN devices namely for power electronics, scintillators and detectors as well as High Electron Mobility Transistors (HEMT). Reduction of dislocation density considerably increases electron mobility in 2DEG. All presented results support our expectation that a suitably designed AlGaN back barrier can help to prevent this phenomenon.
Název v anglickém jazyce
General overview of GaN devices and transport properties of AlGaN/GaN HEMT structures - impact of dislocation density and improved design
Popis výsledku anglicky
GaN-based nanostructures are used for many present semiconductor devices. The main topics are structures for blue LEDs and LDs, but there are also other interesting and important GaN devices namely for power electronics, scintillators and detectors as well as High Electron Mobility Transistors (HEMT). Reduction of dislocation density considerably increases electron mobility in 2DEG. All presented results support our expectation that a suitably designed AlGaN back barrier can help to prevent this phenomenon.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2021
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
NANOCON 2021 - Conference proceedings
ISBN
978-80-88365-00-6
ISSN
2694-930X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
17-22
Název nakladatele
Tanger Ltd.
Místo vydání
Ostrava
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
20. 10. 2021
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—