A brief overview of the studies on the irreversible breakdown of LGAD testing samples irradiated at the critical LHC-HL fluences

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F22%3A00566384" target="_blank" >RIV/68378271:_____/22:00566384 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/07/C07020" target="_blank" >https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/07/C07020</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/17/07/C07020" target="_blank" >10.1088/1748-0221/17/07/C07020</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A brief overview of the studies on the irreversible breakdown of LGAD testing samples irradiated at the critical LHC-HL fluences

Popis výsledku v původním jazyce

LGAD sensors will be employed in the CMS MTD and ATLAS HGTD upgrades to mitigate the high levels of pile-up expected in the High Luminosity phase of the LHC. Over the last several years, much attention has been focused on designing radiation tolerant gain implants to ensure that these sensors survive the expected fluences, (more than 1–2 × 1015 neq/cm2). However, in test beams with protons and a fs-laser, highly irradiated LGADs operated at a high voltage, have been seen to exhibit violent burn-out events that render the sensors inoperable. This paper will focus on the critical electric field and accordingly the bias thresholds to mitigate the risk of Single Event Burnout (SEB).

Název v anglickém jazyce

A brief overview of the studies on the irreversible breakdown of LGAD testing samples irradiated at the critical LHC-HL fluences

Popis výsledku anglicky

LGAD sensors will be employed in the CMS MTD and ATLAS HGTD upgrades to mitigate the high levels of pile-up expected in the High Luminosity phase of the LHC. Over the last several years, much attention has been focused on designing radiation tolerant gain implants to ensure that these sensors survive the expected fluences, (more than 1–2 × 1015 neq/cm2). However, in test beams with protons and a fs-laser, highly irradiated LGADs operated at a high voltage, have been seen to exhibit violent burn-out events that render the sensors inoperable. This paper will focus on the critical electric field and accordingly the bias thresholds to mitigate the risk of Single Event Burnout (SEB).

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2022

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Instrumentation

ISSN

1748-0221

e-ISSN

1748-0221

Svazek periodika

17

Číslo periodika v rámci svazku

7

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

C07020

Kód UT WoS článku

000933446100020

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85135223849