Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Měřicí platforma pro rentgenovou reflektometrii XRR

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F08%3A00143922" target="_blank" >RIV/68407700:21220/08:00143922 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Měřicí platforma pro rentgenovou reflektometrii XRR

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Řada moderních technických odvětví stále intenzivněji využívá struktury tvořené velice tenkými vrstvami nanesenými na podložku. Ty nachází uplatnění především při výrobě mikroprocesorů, fotovoltaických článků novější generace nebo speciální rentgenové optiky. Metoda rentgenové reflektometrie (XRR) je nesmírně důležitým diagnostickým nástrojem, který umožňuje měřit celou řadu vlastností těchto struktur. Proto neustále roste zájem o velice rychlá měřící zařízení využívající metodu XRR. Tento článek popisuje konstrukční řešení takové měřící platformy, která byla navržena ve spolupráci s Fakultou strojní ČVUT v Praze.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement Platform for XRR

  • Popis výsledku anglicky

    Many modern technical branches are using thin layer structures deposited on substrates. Main applications are in semiconductor industry, solar energy and special X-ray optics. XRR is very important method for characterisation of thin film structures andrequirements on fast XRR tool are growing. This articles describes design solutions of such measurement platform developed together with Faculty of Mechanical Engineering CTU in Prague.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Nové metody a postupy v oblasti přístrojové techniky, automatického řízení a informatiky

  • ISBN

    978-80-01-04765-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    České vysoké učení technické v Praze

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    želiv

  • Datum konání akce

    1. 6. 2008

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku