Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Není k dispozici

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03109880" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03109880 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Improvement of the Fault Coverage of the Pseudo-Random Phase in Column Matching BIST

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Several methods improving the fault coverage in mixed mode BIST are presented in this paper. The test is divided into two phases: the pseudo-random and deterministic. Maximum of faults should be detected by the pseudo-random phase, to reduce the number of faults to be covered in the deterministic one. We study the properties of different pseudo-random pattern generators. Their successfulness in fault covering strictly depends on the tested circuit. We examine properties of LFSRs and cellular automata. Four methods enhancing the pseudo random fault coverage have been proposed. Then we propose a universal method to efficiently compute test weights. The observations are documented on some of the standard ISCAS benchmarks and the final BIST circuitry is synthesized using the Column-Matching method.

  • Název v anglickém jazyce

    Improvement of the Fault Coverage of the Pseudo-Random Phase in Column Matching BIST

  • Popis výsledku anglicky

    Several methods improving the fault coverage in mixed mode BIST are presented in this paper. The test is divided into two phases: the pseudo-random and deterministic. Maximum of faults should be detected by the pseudo-random phase, to reduce the number of faults to be covered in the deterministic one. We study the properties of different pseudo-random pattern generators. Their successfulness in fault covering strictly depends on the tested circuit. We examine properties of LFSRs and cellular automata. Four methods enhancing the pseudo random fault coverage have been proposed. Then we propose a universal method to efficiently compute test weights. The observations are documented on some of the standard ISCAS benchmarks and the final BIST circuitry is synthesized using the Column-Matching method.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings Eighth EUROMICRO Conference on Digital System Design

  • ISBN

    0-7695-2433-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    56-63

  • Název nakladatele

    IEEE Computer Society

  • Místo vydání

    Los Alamitos

  • Místo konání akce

    Porto

  • Datum konání akce

    30. 8. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku