Není k dispozici
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03109880" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03109880 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Improvement of the Fault Coverage of the Pseudo-Random Phase in Column Matching BIST
Popis výsledku v původním jazyce
Several methods improving the fault coverage in mixed mode BIST are presented in this paper. The test is divided into two phases: the pseudo-random and deterministic. Maximum of faults should be detected by the pseudo-random phase, to reduce the number of faults to be covered in the deterministic one. We study the properties of different pseudo-random pattern generators. Their successfulness in fault covering strictly depends on the tested circuit. We examine properties of LFSRs and cellular automata. Four methods enhancing the pseudo random fault coverage have been proposed. Then we propose a universal method to efficiently compute test weights. The observations are documented on some of the standard ISCAS benchmarks and the final BIST circuitry is synthesized using the Column-Matching method.
Název v anglickém jazyce
Improvement of the Fault Coverage of the Pseudo-Random Phase in Column Matching BIST
Popis výsledku anglicky
Several methods improving the fault coverage in mixed mode BIST are presented in this paper. The test is divided into two phases: the pseudo-random and deterministic. Maximum of faults should be detected by the pseudo-random phase, to reduce the number of faults to be covered in the deterministic one. We study the properties of different pseudo-random pattern generators. Their successfulness in fault covering strictly depends on the tested circuit. We examine properties of LFSRs and cellular automata. Four methods enhancing the pseudo random fault coverage have been proposed. Then we propose a universal method to efficiently compute test weights. The observations are documented on some of the standard ISCAS benchmarks and the final BIST circuitry is synthesized using the Column-Matching method.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings Eighth EUROMICRO Conference on Digital System Design
ISBN
0-7695-2433-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
56-63
Název nakladatele
IEEE Computer Society
Místo vydání
Los Alamitos
Místo konání akce
Porto
Datum konání akce
30. 8. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—