Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mixed-Mode BIST založený na Column Matching algoritmu

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03113895" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03113895 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Mixed-Mode BIST Based on Column Matching

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A test-per-clock BIST method for combinational or full-scan circuits is proposed. The method is based on a design of a combinational block - the decoder, transforming pseudo-random LFSR code words into deterministic test patterns. A Column-Matching algorithm to design the decoder is proposed. The Column Matching method modified to support a mixed-mode BIST is proposed as well. Here the BIST is divided into two disjoint phases - the pseudo-random phase, where the LFSR patterns are being applied to the circuit unmodified, and the deterministic phase detecting all the yet undetected faults. This enables us to reach a high fault coverage in a short test time and with a low area overhead.

  • Název v anglickém jazyce

    Mixed-Mode BIST Based on Column Matching

  • Popis výsledku anglicky

    A test-per-clock BIST method for combinational or full-scan circuits is proposed. The method is based on a design of a combinational block - the decoder, transforming pseudo-random LFSR code words into deterministic test patterns. A Column-Matching algorithm to design the decoder is proposed. The Column Matching method modified to support a mixed-mode BIST is proposed as well. Here the BIST is divided into two disjoint phases - the pseudo-random phase, where the LFSR patterns are being applied to the circuit unmodified, and the deterministic phase detecting all the yet undetected faults. This enables us to reach a high fault coverage in a short test time and with a low area overhead.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Počítačové architektury & diagnostika

  • ISBN

    80-01-03298-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    45-50

  • Název nakladatele

    ČVUT FEL, Katedra počítačů

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Lázně Sedmihorky

  • Datum konání akce

    21. 9. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku