Vliv montáže na malosignálové parametry pouzdřeného tranzistoru

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03112237" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03112237 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Assembly Influence on the Small-Signal Parameters of a Packaged Transistor

Popis výsledku v původním jazyce

A detailed analysis of the assembly influence on the small-signal parameters of a packaged transistor is presented. A new method, based on 3D field simulation and mixed-mode scattering parameters approach is proposed. Differences in scattering parameterscaused by assembly change are computed using the new proposed method and compared to the standard method based on admittance matrix. The differences, accuracy, error sources and suitability of both methods are discussed. Results are verified experimentally in microstrip line for two fundamental assembly change of a transistor in SOT 343 package in frequency range 45 MHz - 18 GHz.

Název v anglickém jazyce

Assembly Influence on the Small-Signal Parameters of a Packaged Transistor

Popis výsledku anglicky

A detailed analysis of the assembly influence on the small-signal parameters of a packaged transistor is presented. A new method, based on 3D field simulation and mixed-mode scattering parameters approach is proposed. Differences in scattering parameterscaused by assembly change are computed using the new proposed method and compared to the standard method based on admittance matrix. The differences, accuracy, error sources and suitability of both methods are discussed. Results are verified experimentally in microstrip line for two fundamental assembly change of a transistor in SOT 343 package in frequency range 45 MHz - 18 GHz.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Radioengineering

ISSN

1210-2512

e-ISSN

—

Svazek periodika

14

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

75-80

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—