Identifikace parametrů modelů polovodičových prvků užitím optimalizačních metod
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F07%3A03136149" target="_blank" >RIV/68407700:21230/07:03136149 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Identifying Model Parameters of Semiconductor Devices Using Optimization Techniques
Popis výsledku v původním jazyce
The optimization is an indispensable tool for extracting the parameters of any complicated models. Hence, advanced optimization techniques are also necessary for identifying the model parameters of semiconductor devices because their current models are very sophisticated (especially the BJT and MOSFET ones). The equations of such models contain typically one hundred parameters. Therefore, the measurement and particularly identification of the full set of the model parameters is very difficult. In the paper, an optimization method is presented which is applicable for the identifications of very complicated models using a relatively small number of iterations. The algorithm has been implemented into the original software tool C.I.A. (Circuit InteractiveAnalyzer) to its static and dynamic analysis modes. Therefore, the optimization is able to identify both direct-current and capacitance models of semiconductor devices. The process is demonstrated with various transistors.
Název v anglickém jazyce
Identifying Model Parameters of Semiconductor Devices Using Optimization Techniques
Popis výsledku anglicky
The optimization is an indispensable tool for extracting the parameters of any complicated models. Hence, advanced optimization techniques are also necessary for identifying the model parameters of semiconductor devices because their current models are very sophisticated (especially the BJT and MOSFET ones). The equations of such models contain typically one hundred parameters. Therefore, the measurement and particularly identification of the full set of the model parameters is very difficult. In the paper, an optimization method is presented which is applicable for the identifications of very complicated models using a relatively small number of iterations. The algorithm has been implemented into the original software tool C.I.A. (Circuit InteractiveAnalyzer) to its static and dynamic analysis modes. Therefore, the optimization is able to identify both direct-current and capacitance models of semiconductor devices. The process is demonstrated with various transistors.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F05%2F0277" target="_blank" >GA102/05/0277: Obvody v proudovém a smíšeném módu pro zpracování analogových signálů</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Computing and Information Technology
ISSN
1330-1136
e-ISSN
—
Svazek periodika
15
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
HR - Chorvatská republika
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
331-338
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—