Reliable procedure for electrical characterization of MOS-based devices

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00170810" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00170810 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Reliable procedure for electrical characterization of MOS-based devices

Popis výsledku v původním jazyce

Contemporary models of MOSFET are very complicated, especially the BSIM and EKV ones. Therefore, an identification of many parameters of these models is quite a difficult task from both algorithmic and numeric points of view. Moreover, the complexity ofthe models makes an optimization of MOS-based functional blocks too difficult. This paper suggests several improvements of both mono-objective and multi-objective optimization methods to enhance the reliability of extraction of the model parameters and to find the most achievable properties of the MOS-based functional blocks.

Název v anglickém jazyce

Reliable procedure for electrical characterization of MOS-based devices

Popis výsledku anglicky

Contemporary models of MOSFET are very complicated, especially the BSIM and EKV ones. Therefore, an identification of many parameters of these models is quite a difficult task from both algorithmic and numeric points of view. Moreover, the complexity ofthe models makes an optimization of MOS-based functional blocks too difficult. This paper suggests several improvements of both mono-objective and multi-objective optimization methods to enhance the reliability of extraction of the model parameters and to find the most achievable properties of the MOS-based functional blocks.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BA - Obecná matematika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F0784" target="_blank" >GA102/08/0784: Speciální metody modelování a simulace spínaných obvodů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Solid-State Electronics

ISSN

0038-1101

e-ISSN

—

Svazek periodika

54

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000281019100022

EID výsledku v databázi Scopus

—