Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Failure Mode and Effects Analysis of a Process of Reflow Lead-Free Soldering

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F08%3A00147154" target="_blank" >RIV/68407700:21230/08:00147154 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Failure Mode and Effects Analysis of a Process of Reflow Lead-Free Soldering

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper describes the use of Failure mode and effects analysis (FMEA of a process type) for the process of lead-free soldering improvement. Wettability of joined parts on the type of solder and surface finish of connected parts has been investigated.

  • Název v anglickém jazyce

    Failure Mode and Effects Analysis of a Process of Reflow Lead-Free Soldering

  • Popis výsledku anglicky

    The paper describes the use of Failure mode and effects analysis (FMEA of a process type) for the process of lead-free soldering improvement. Wettability of joined parts on the type of solder and surface finish of connected parts has been investigated.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    31st International Spring Seminar on Electronics Technology

  • ISBN

    978-1-4244-3973-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    New York

  • Místo konání akce

    Budapest

  • Datum konání akce

    7. 5. 2008

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000272337900082