Depth Recording Capabilities of Planar High-Density Microelectrode Arrays
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00157920" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00157920 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Depth Recording Capabilities of Planar High-Density Microelectrode Arrays
Popis výsledku v původním jazyce
We use a planar, CMOS-based microelectrode array (MEA) featuring 3,150 metal electrodes per mm2 and 126 recording channels to record spatially highly resolved extracellular action potentials (EAPs) from Purkinje cells (PCs) in acute cerebellar slices. AnIndependent-Component-Analysis-based (ICA) spike sorter is used to reveal EAPs of single cells at subcellular resolution. Those EAPs are then used to set up a compartment model of a PC. The model is used to make and finetune estimations of the distancebetween MEA surface and PC soma. This distance is estimated using the amplitude-independent part of the shape of the EAPs obtained from recordings. The estimation shows that, in our preparations, we can record from PCs with the center of their soma at approximately 35 ?m and 90 ?m vertical distance to the chip surface.
Název v anglickém jazyce
Depth Recording Capabilities of Planar High-Density Microelectrode Arrays
Popis výsledku anglicky
We use a planar, CMOS-based microelectrode array (MEA) featuring 3,150 metal electrodes per mm2 and 126 recording channels to record spatially highly resolved extracellular action potentials (EAPs) from Purkinje cells (PCs) in acute cerebellar slices. AnIndependent-Component-Analysis-based (ICA) spike sorter is used to reveal EAPs of single cells at subcellular resolution. Those EAPs are then used to set up a compartment model of a PC. The model is used to make and finetune estimations of the distancebetween MEA surface and PC soma. This distance is estimated using the amplitude-independent part of the shape of the EAPs obtained from recordings. The estimation shows that, in our preparations, we can record from PCs with the center of their soma at approximately 35 ?m and 90 ?m vertical distance to the chip surface.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 4th International IEEE EMBS Conference on Neural Engineering
ISBN
978-1-4244-2073-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway
Místo konání akce
Antalya
Datum konání akce
29. 4. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—