Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00167671" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00167671 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/67985882:_____/10:00350413
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope
Popis výsledku v původním jazyce
Several applications of the atomic force microscopy (AFM), such as measurement of soft samples, manipulation with molecules, etc., require mechanical analysis of the AFM probe behavior. In this article we suggest the electrical circuit analogy to AFM cantilever tip motion. Well developed circuit theories in connection with fairly accessible software for circuit analysis make this alternative method easy to use for a wide community of AFM users.
Název v anglickém jazyce
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope
Popis výsledku anglicky
Several applications of the atomic force microscopy (AFM), such as measurement of soft samples, manipulation with molecules, etc., require mechanical analysis of the AFM probe behavior. In this article we suggest the electrical circuit analogy to AFM cantilever tip motion. Well developed circuit theories in connection with fairly accessible software for circuit analysis make this alternative method easy to use for a wide community of AFM users.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)