Ageing of Tunnel Junctions Formed in Oxygen Plasma and in Air
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00205505" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00205505 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2013.6648233" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2013.6648233</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2013.6648233" target="_blank" >10.1109/ISSE.2013.6648233</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Ageing of Tunnel Junctions Formed in Oxygen Plasma and in Air
Popis výsledku v původním jazyce
Ageing of tunnel junctions of the type Al-Al2O3-Pb in laboratory conditions was examined. The alumina insulating barrier was formed by two methods: by oxidation of the basic Al electrode in oxygen and by oxidation in air . It was found that the junctionswith the alumina barrier formed in plasma aged faster than those with the barrier formed in air. The reason is that the films formed in oxygen plasma are more porous in comparison with the films formed in air and therefore are more prone to oxidation.
Název v anglickém jazyce
Ageing of Tunnel Junctions Formed in Oxygen Plasma and in Air
Popis výsledku anglicky
Ageing of tunnel junctions of the type Al-Al2O3-Pb in laboratory conditions was examined. The alumina insulating barrier was formed by two methods: by oxidation of the basic Al electrode in oxygen and by oxidation in air . It was found that the junctionswith the alumina barrier formed in plasma aged faster than those with the barrier formed in air. The reason is that the films formed in oxygen plasma are more porous in comparison with the films formed in air and therefore are more prone to oxidation.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the International Spring Seminar on Electronic Technology
ISBN
9781479900367
ISSN
2161-2528
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
152-156
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
New York
Místo konání akce
Alba Iulia
Datum konání akce
8. 5. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—