Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Burying of channel optical waveguides: relation between near- field measurement and Ag concentration profile

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F14%3A00222245" target="_blank" >RIV/68407700:21230/14:00222245 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Burying of channel optical waveguides: relation between near- field measurement and Ag concentration profile

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The aim of this work was to investigate the Ag+ - Na+ ion exchange as well as the subsequent electric field assisted ?burying? in newly designed silicate glasses. We especially focused on the relationship between Ag concentration profile in the channel waveguide and refractive index profile. The ion-exchanged samples were characterized using electron microprobe analysis. Furthermore, the refractive index profiles of the two-step ion-exchanged waveguides were characterized with a near-field measurement,and the profiles were compared with the concentration profiles. Newly, we studied the relation between properties in particular channel waveguides loss and silver concentration profiles.

  • Název v anglickém jazyce

    Burying of channel optical waveguides: relation between near- field measurement and Ag concentration profile

  • Popis výsledku anglicky

    The aim of this work was to investigate the Ag+ - Na+ ion exchange as well as the subsequent electric field assisted ?burying? in newly designed silicate glasses. We especially focused on the relationship between Ag concentration profile in the channel waveguide and refractive index profile. The ion-exchanged samples were characterized using electron microprobe analysis. Furthermore, the refractive index profiles of the two-step ion-exchanged waveguides were characterized with a near-field measurement,and the profiles were compared with the concentration profiles. Newly, we studied the relation between properties in particular channel waveguides loss and silver concentration profiles.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů