The influence of nitrogen and oxygen additions on the thermal characteristics of aluminium-based thin filmsOriginal
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00231616" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00231616 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matchemphys.2015.08.015" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.matchemphys.2015.08.015</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matchemphys.2015.08.015" target="_blank" >10.1016/j.matchemphys.2015.08.015</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The influence of nitrogen and oxygen additions on the thermal characteristics of aluminium-based thin filmsOriginal
Popis výsledku v původním jazyce
The ternary aluminium oxynitride (AlNxOy) system offers the possibility to obtain a wide range of properties by tailoring the ratio between pure Al, AlNx and AlOy and therefore opening a significant number of possible applications. In this work the thermal behaviour of AlNxOy thin films was analysed by modulated infrared radiometry (MIRR), taking as reference the binary AlOy and AlNx systems. MIRR is a non-contact and non-destructive thermal wave measurement technique based on the excitation, propagation and detection of temperature oscillations of very small amplitudes. The intended change of the partial pressure of the reactive gas (N2 and/or O2) influenced the target condition and hence the deposition characteristics which, altogether, affected thecomposition and microstructure of the films. Based on the MIRR measurements and their qualitative and quantitative interpretation, some correlations between the thermal transport properties of the films and their chemical/physical propert
Název v anglickém jazyce
The influence of nitrogen and oxygen additions on the thermal characteristics of aluminium-based thin filmsOriginal
Popis výsledku anglicky
The ternary aluminium oxynitride (AlNxOy) system offers the possibility to obtain a wide range of properties by tailoring the ratio between pure Al, AlNx and AlOy and therefore opening a significant number of possible applications. In this work the thermal behaviour of AlNxOy thin films was analysed by modulated infrared radiometry (MIRR), taking as reference the binary AlOy and AlNx systems. MIRR is a non-contact and non-destructive thermal wave measurement technique based on the excitation, propagation and detection of temperature oscillations of very small amplitudes. The intended change of the partial pressure of the reactive gas (N2 and/or O2) influenced the target condition and hence the deposition characteristics which, altogether, affected thecomposition and microstructure of the films. Based on the MIRR measurements and their qualitative and quantitative interpretation, some correlations between the thermal transport properties of the films and their chemical/physical propert
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JK - Koroze a povrchové úpravy materiálu
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EE2.3.30.0034" target="_blank" >EE2.3.30.0034: Podpora zkvalitnění týmů výzkumu a vývoje a rozvoj intersektorální mobility na ČVUT v Praze</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials Chemistry and Physics
ISSN
0254-0584
e-ISSN
—
Svazek periodika
163
Číslo periodika v rámci svazku
August
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
569-580
Kód UT WoS článku
000365361500068
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84940460526