Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Temperature distribution in solder joints during melting and solidification

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00233978" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00233978 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ATEE.2015.7133853" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ATEE.2015.7133853</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ATEE.2015.7133853" target="_blank" >10.1109/ATEE.2015.7133853</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Temperature distribution in solder joints during melting and solidification

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The most vulnerable components of electronic circuits (PCA - Printed Circuit Assembly) are the solder joints. During the soldering process different anomalies may occur (changes in the reflow temperature profile, different cooling rates) leading to the inception of some defects, as excessive voids inside the solder, brittle phase formation, concentration gradients of elements or metallurgical composition etc. To avoid this, it is mandatory to follow the parameter values of the reflow process (speed, temperature values etc.). Temperature computing model for two PCA samples during the reflow soldering process, by using Comsol Multiphysics software (heat transfer 3 D module) is presented in this paper. PCA samples with and without resistor contains substrate with two soldering pads together with lead free solder. To carry out the computations, the latent heat of fusion/solidification and the variation with the temperature of the alloy parameters were considered. The results show that the presence of the resistor leads to the decrease of the temperature in the alloy during melting and its increase during solidification.

  • Název v anglickém jazyce

    Temperature distribution in solder joints during melting and solidification

  • Popis výsledku anglicky

    The most vulnerable components of electronic circuits (PCA - Printed Circuit Assembly) are the solder joints. During the soldering process different anomalies may occur (changes in the reflow temperature profile, different cooling rates) leading to the inception of some defects, as excessive voids inside the solder, brittle phase formation, concentration gradients of elements or metallurgical composition etc. To avoid this, it is mandatory to follow the parameter values of the reflow process (speed, temperature values etc.). Temperature computing model for two PCA samples during the reflow soldering process, by using Comsol Multiphysics software (heat transfer 3 D module) is presented in this paper. PCA samples with and without resistor contains substrate with two soldering pads together with lead free solder. To carry out the computations, the latent heat of fusion/solidification and the variation with the temperature of the alloy parameters were considered. The results show that the presence of the resistor leads to the decrease of the temperature in the alloy during melting and its increase during solidification.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2015 9th International Symposium on Advanced Topics in Electrical Engineering (ATEE 2015)

  • ISBN

    978-1-4799-7514-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    500-506

  • Název nakladatele

    Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Místo vydání

    New York

  • Místo konání akce

    Bucharest

  • Datum konání akce

    7. 5. 2015

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000368159800095