Phase estimation of illumination pattern in structured illumination microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F17%3A00312003" target="_blank" >RIV/68407700:21230/17:00312003 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://ieeexplore.ieee.org/document/7937590/" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/document/7937590/</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/RADIOELEK.2017.7937590" target="_blank" >10.1109/RADIOELEK.2017.7937590</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Phase estimation of illumination pattern in structured illumination microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Conventional structured illumination microscopy (SIM) methods require precise knowledge of the illumination pattern and assume the sample to be stationary during the acquisition. Fulfilling these two conditions in practice is difficult. Therefore, the estimation of illumination pattern from acquired images is necessary. Inaccurate estimation of spatial frequency, angular orientation or phase shift of the illumination pattern leads to unwanted image reconstruction artifacts. In this paper, we analyze the performance of different phase estimation approaches using simulated SIM data from a synthetic sample.

Název v anglickém jazyce

Phase estimation of illumination pattern in structured illumination microscopy

Popis výsledku anglicky

Conventional structured illumination microscopy (SIM) methods require precise knowledge of the illumination pattern and assume the sample to be stationary during the acquisition. Fulfilling these two conditions in practice is difficult. Therefore, the estimation of illumination pattern from acquired images is necessary. Inaccurate estimation of spatial frequency, angular orientation or phase shift of the illumination pattern leads to unwanted image reconstruction artifacts. In this paper, we analyze the performance of different phase estimation approaches using simulated SIM data from a synthetic sample.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/GA17-05840S" target="_blank" >GA17-05840S: Multikriteriální optimalizace modelů prostorově variantních zobrazovacích systémů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

2017 27th International Conference Radioelektronika (RADIOELEKTRONIKA)

ISBN

978-1-5090-4591-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

174-177

Název nakladatele

VUT v Brně, FEKT, Ústav radioelektroniky

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

19. 4. 2017

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000414280400032