Thick Film Structure – Influence of Pattern Geometry
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00327193" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00327193 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2018/Cislo1_2018/r12c1c1.pdf" target="_blank" >http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2018/Cislo1_2018/r12c1c1.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thick Film Structure – Influence of Pattern Geometry
Popis výsledku v původním jazyce
The article concern with the topic of thick-film structures prepared by screen printing. Work is focused on analysis the influence of different types of polymer paste and preparation technology of layer on the pattern geometry. Set of samples of test structure with different sizes and shapes were printed on ceramics substrates. Measured parameters were the electrical resistance and the dimensions of the layers. Deviations from the theoretical width values for each type of paste were analyzed and compared. The path width was measured by optical microscope and the thickness of the layers by the stylus method.
Název v anglickém jazyce
Thick Film Structure – Influence of Pattern Geometry
Popis výsledku anglicky
The article concern with the topic of thick-film structures prepared by screen printing. Work is focused on analysis the influence of different types of polymer paste and preparation technology of layer on the pattern geometry. Set of samples of test structure with different sizes and shapes were printed on ceramics substrates. Measured parameters were the electrical resistance and the dimensions of the layers. Deviations from the theoretical width values for each type of paste were analyzed and compared. The path width was measured by optical microscope and the thickness of the layers by the stylus method.
Klasifikace
Druh
J<sub>ost</sub> - Ostatní články v recenzovaných periodicích
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
ElectroScope
ISSN
1802-4564
e-ISSN
1802-4564
Svazek periodika
2018
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—