Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F19%3A00339539" target="_blank" >RIV/68407700:21230/19:00339539 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21340/19:00339539 RIV/61389005:_____/19:00525525 RIV/26722445:_____/19:N0000190

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Sputter-deposited Zr/Nb nanometric multilayer films with a periodicity (L) in the range from 6 to 167 nm were subjected to carbon, silicon and copper ion irradiation with low and high fluences at room temperature. The ion profiles, mechanical proprieties, and disordering behavior have been investigated by using a variety of experimental techniques (Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS, nanoindentation, X-ray diffraction - XRD, and scanning transmission electron microscopy - STEM). On the STEM bright field micrographs there is damage clearly visible on the surface side of the multilayer; deeper, the most damaged and disordered zone, located close to the maximum ion concentration, was observed. The in-depth C and Si concentration profiles obtained from SIMS were not affected by the periodicity of the nanolayers. This is in accordance with SRIM simulations. XRD and electron diffraction analyses suggest a structural evolution in relation to L. After irradiation, Zr (0002) and Nb (110) reflexions overlap for L=6 nm. For the periodicity L> 6 nm the Zr (0002) peak is shifted to higher angles and Nb (110) peak is shifted to lower angles.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers

  • Popis výsledku anglicky

    Sputter-deposited Zr/Nb nanometric multilayer films with a periodicity (L) in the range from 6 to 167 nm were subjected to carbon, silicon and copper ion irradiation with low and high fluences at room temperature. The ion profiles, mechanical proprieties, and disordering behavior have been investigated by using a variety of experimental techniques (Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS, nanoindentation, X-ray diffraction - XRD, and scanning transmission electron microscopy - STEM). On the STEM bright field micrographs there is damage clearly visible on the surface side of the multilayer; deeper, the most damaged and disordered zone, located close to the maximum ion concentration, was observed. The in-depth C and Si concentration profiles obtained from SIMS were not affected by the periodicity of the nanolayers. This is in accordance with SRIM simulations. XRD and electron diffraction analyses suggest a structural evolution in relation to L. After irradiation, Zr (0002) and Nb (110) reflexions overlap for L=6 nm. For the periodicity L> 6 nm the Zr (0002) peak is shifted to higher angles and Nb (110) peak is shifted to lower angles.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20501 - Materials engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Metal 2019 - 28th International Conference on Metallurgy and Materials

  • ISBN

    978-80-87294-92-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    944-949

  • Název nakladatele

    Tanger

  • Místo vydání

    Ostrava

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    22. 5. 2019

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000539487400154