Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of Fe and Bi Additives on Electrochemical Migration Behavior of SAC105

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00386746" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00386746 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121063" target="_blank" >https://doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121063</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE65583.2025.11121063" target="_blank" >10.1109/ISSE65583.2025.11121063</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of Fe and Bi Additives on Electrochemical Migration Behavior of SAC105

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This study investigates the electrochemical migration (ECM) behavior of novel SAC105-based solder alloys with varying Fe and Bi contents (0.05 Fe 2 Bi, 0.1 Fe 2 Bi, 0.1 Fe 1 Bi) in comparison to SAC105 without additives. The evaluation was conducted using a water drop test with a 1 mM NaCl electrolyte under an applied voltage of 3 V to determine the time to failure (TTF). Electrode surface, dendrite formations, and precipitates were characterized through scanning electron microscopy (SEM), energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX), and X-ray diffraction (XRD). The ECM behaviors were then compared to the corrosion properties determined using a polarization test. The results indicate that the SAC105 alloy without additives exhibited the shortest TTF, and the incorporation of Fe and Bi additives enhanced ECM resistance, with the 0.1 Fe 1 Bi alloy demonstrating the highest TTF. However, EDX analysis reveals that there is no iron or bismuth in the dendrites; only tin was observed to deposit at the cathode. The polarization test revealed an opposite outcome, as the 0.1 Fe 1 Bi alloy showed the lowest corrosion resistance. The findings underscore the necessity to contemplate both mechanisms in order to ensure the reliability of solder alloys.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of Fe and Bi Additives on Electrochemical Migration Behavior of SAC105

  • Popis výsledku anglicky

    This study investigates the electrochemical migration (ECM) behavior of novel SAC105-based solder alloys with varying Fe and Bi contents (0.05 Fe 2 Bi, 0.1 Fe 2 Bi, 0.1 Fe 1 Bi) in comparison to SAC105 without additives. The evaluation was conducted using a water drop test with a 1 mM NaCl electrolyte under an applied voltage of 3 V to determine the time to failure (TTF). Electrode surface, dendrite formations, and precipitates were characterized through scanning electron microscopy (SEM), energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX), and X-ray diffraction (XRD). The ECM behaviors were then compared to the corrosion properties determined using a polarization test. The results indicate that the SAC105 alloy without additives exhibited the shortest TTF, and the incorporation of Fe and Bi additives enhanced ECM resistance, with the 0.1 Fe 1 Bi alloy demonstrating the highest TTF. However, EDX analysis reveals that there is no iron or bismuth in the dendrites; only tin was observed to deposit at the cathode. The polarization test revealed an opposite outcome, as the 0.1 Fe 1 Bi alloy showed the lowest corrosion resistance. The findings underscore the necessity to contemplate both mechanisms in order to ensure the reliability of solder alloys.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)

  • ISBN

    979-8-3315-1217-0

  • ISSN

    2161-2536

  • e-ISSN

    2161-2528

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Místo vydání

    New York

  • Místo konání akce

    Budapešť

  • Datum konání akce

    14. 5. 2025

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    001585293500094