Faults Coverage Improvement based on Fault Simulation and Partial Duplication
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F10%3A00169332" target="_blank" >RIV/68407700:21240/10:00169332 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Faults Coverage Improvement based on Fault Simulation and Partial Duplication
Popis výsledku v původním jazyce
A method how to improve the coverage of single faults in combinational circuits is proposed. The method is based on Concurrent Error Detection, but uses a fault simulation to find Critical points - the places, where faults are difficult to detect. The partial duplication of the design with regard to these critical points is able to increase the faults coverage with a low area overhead cost. Due to higher fault coverage we can increase the dependability parameters. The proposed modification is tested onthe railway station safety devices designs implemented in the FPGA.
Název v anglickém jazyce
Faults Coverage Improvement based on Fault Simulation and Partial Duplication
Popis výsledku anglicky
A method how to improve the coverage of single faults in combinational circuits is proposed. The method is based on Concurrent Error Detection, but uses a fault simulation to find Critical points - the places, where faults are difficult to detect. The partial duplication of the design with regard to these critical points is able to increase the faults coverage with a low area overhead cost. Due to higher fault coverage we can increase the dependability parameters. The proposed modification is tested onthe railway station safety devices designs implemented in the FPGA.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F09%2F1668" target="_blank" >GA102/09/1668: Zvyšování spolehlivosti a provozuschopnosti v obvodech SoC</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 13th Euromicro Conference on Digital System Design
ISBN
978-0-7695-4171-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE Computer Society Press
Místo vydání
Los Alamitos
Místo konání akce
Lille
Datum konání akce
1. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—