Reduction of Complex Safety Models based on Markov Chaints
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F12%3A00193153" target="_blank" >RIV/68407700:21240/12:00193153 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Reduction of Complex Safety Models based on Markov Chaints
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a method how to reduce safety models based on Markov chains.The safety models is used to calculate the probability and rate of an event leading to the hazard state - situation, where safety of a modeled system is violated, so the system may cause material loss ot mortality. The reduction method allows us to prove that the rate of the event is sufficiently small hence the hazard state may be neglectede. The real safety model of railway station signaling and interlocking equipments isused as a case study.
Název v anglickém jazyce
Reduction of Complex Safety Models based on Markov Chaints
Popis výsledku anglicky
This paper presents a method how to reduce safety models based on Markov chains.The safety models is used to calculate the probability and rate of an event leading to the hazard state - situation, where safety of a modeled system is violated, so the system may cause material loss ot mortality. The reduction method allows us to prove that the rate of the event is sufficiently small hence the hazard state may be neglectede. The real safety model of railway station signaling and interlocking equipments isused as a case study.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
ISBN
978-1-4673-1185-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
183-186
Název nakladatele
IEEE Computer Society Press
Místo vydání
New York
Místo konání akce
Tallinn
Datum konání akce
18. 4. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—