Novel Gate Design Method for Short-Duration Test

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F15%3A00232444" target="_blank" >RIV/68407700:21240/15:00232444 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://radio.feld.cvut.cz/conf/poster2015/" target="_blank" >http://radio.feld.cvut.cz/conf/poster2015/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Novel Gate Design Method for Short-Duration Test
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper, a novel logic gate design method will be presented. This method allows to test combinational parts of the circuit using a short-duration offline test. Short-duration offline tests are usable when fault-recovery in duplex-based systems is required and downtime should be minimized at the same time. The presented method adopts some principles from dual-rail logic and asynchronous circuits design.
Název v anglickém jazyce
Novel Gate Design Method for Short-Duration Test
Popis výsledku anglicky
In this paper, a novel logic gate design method will be presented. This method allows to test combinational parts of the circuit using a short-duration offline test. Short-duration offline tests are usable when fault-recovery in duplex-based systems is required and downtime should be minimized at the same time. The presented method adopts some principles from dual-rail logic and asynchronous circuits design.

Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 19th International Scientific Student Conferenece POSTER 2015
ISBN
978-80-01-05499-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Název nakladatele
Czech Technical University in Prague
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
14. 5. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)