The Effect of the Transient Faults in Dependability Prediction

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F16%3A00301389" target="_blank" >RIV/68407700:21240/16:00301389 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2016.73" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2016.73</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2016.73" target="_blank" >10.1109/DSD.2016.73</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

The Effect of the Transient Faults in Dependability Prediction

Popis výsledku v původním jazyce

Markov chain models are used to evaluate the dependability properties (reliability, safety, availability, maintainability etc.) of the mission-critical systems. Dependability models are often focused only on the basic stuck-at faults. On the other hand the transient faults are present in the operational environment but not included in the dependability prediction. The aim of this paper is to show how the transient faults influence the dependability prediction using the Markov chain model. In this paper basic TMR Markov chain model using stuck-at faults is compared to our extended TMR model considering both the stuck-at and transient faults. The main focus is given on the calculation of the dependability parameter lambda (i.e. the failure rate of the system).

Název v anglickém jazyce

The Effect of the Transient Faults in Dependability Prediction

Popis výsledku anglicky

Markov chain models are used to evaluate the dependability properties (reliability, safety, availability, maintainability etc.) of the mission-critical systems. Dependability models are often focused only on the basic stuck-at faults. On the other hand the transient faults are present in the operational environment but not included in the dependability prediction. The aim of this paper is to show how the transient faults influence the dependability prediction using the Markov chain model. In this paper basic TMR Markov chain model using stuck-at faults is compared to our extended TMR model considering both the stuck-at and transient faults. The main focus is given on the calculation of the dependability parameter lambda (i.e. the failure rate of the system).

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

IN - Informatika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA16-05179S" target="_blank" >GA16-05179S: Výzkum vztahů a společných vlastností spolehlivých a bezpečných architektur založených na programovatelných obvodech</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 19th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2016

ISBN

978-1-5090-2816-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

9-13

Název nakladatele

IEEE Computer Soc.

Místo vydání

Los Alamitos, CA

Místo konání akce

Limassol, Cyprus

Datum konání akce

31. 8. 2016

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000386638800002