The effect of the transient faults in dependability prediction

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F17%3A00316522" target="_blank" >RIV/68407700:21240/17:00316522 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2017.05.004" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2017.05.004</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2017.05.004" target="_blank" >10.1016/j.micpro.2017.05.004</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

The effect of the transient faults in dependability prediction

Popis výsledku v původním jazyce

Markov chain models are used to evaluate the dependability properties (reliability, safety, availability, maintainability etc.) of the mission-critical systems. Dependability models are often focused only on the basic stuck-at faults. On the other hand the transient faults are present in the operational environment but not included in the dependability prediction. The aim of this paper is to show how the transient faults influence the dependability prediction using the Markov chain model. In this paper basic TMR Markov chain model using stuck-at faults is compared to our extended TMR model considering both the stuck-at and transient faults. The main focus is given on the calculation of the dependability parameter lambda (i.e. the failure rate of the system).

Název v anglickém jazyce

The effect of the transient faults in dependability prediction

Popis výsledku anglicky

Markov chain models are used to evaluate the dependability properties (reliability, safety, availability, maintainability etc.) of the mission-critical systems. Dependability models are often focused only on the basic stuck-at faults. On the other hand the transient faults are present in the operational environment but not included in the dependability prediction. The aim of this paper is to show how the transient faults influence the dependability prediction using the Markov chain model. In this paper basic TMR Markov chain model using stuck-at faults is compared to our extended TMR model considering both the stuck-at and transient faults. The main focus is given on the calculation of the dependability parameter lambda (i.e. the failure rate of the system).

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

20206 - Computer hardware and architecture

Projekt

<a href="/cs/project/GA16-05179S" target="_blank" >GA16-05179S: Výzkum vztahů a společných vlastností spolehlivých a bezpečných architektur založených na programovatelných obvodech</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microprocessors and Microsystems

ISSN

0141-9331

e-ISSN

1872-9436

Svazek periodika

52

Číslo periodika v rámci svazku

C

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

498-504

Kód UT WoS článku

000407984000044

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85019384073