Dependability Prediction Involving Temporal Redundancy and the Effect of Transient Faults

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F17%3A00312908" target="_blank" >RIV/68407700:21240/17:00312908 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2017.77" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2017.77</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2017.77" target="_blank" >10.1109/DSD.2017.77</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Dependability Prediction Involving Temporal Redundancy and the Effect of Transient Faults
Popis výsledku v původním jazyce
Dependability models are focused only on the basic stuck-at faults. In previous work a method has been shown on how to calculate dependability prediction using Markov chain models. This method has been described using the TMR architecture. In this paper a similar method for calculating the dependability parameter lambda (i.e., the failure rate of the system) is proposed. Focus is given on the dependability prediction using the temporal redundancy considering both stuck-at and transient faults.
Název v anglickém jazyce
Dependability Prediction Involving Temporal Redundancy and the Effect of Transient Faults
Popis výsledku anglicky
Dependability models are focused only on the basic stuck-at faults. In previous work a method has been shown on how to calculate dependability prediction using Markov chain models. This method has been described using the TMR architecture. In this paper a similar method for calculating the dependability parameter lambda (i.e., the failure rate of the system) is proposed. Focus is given on the dependability prediction using the temporal redundancy considering both stuck-at and transient faults.

Projekt
<a href="/cs/project/GA16-05179S" target="_blank" >GA16-05179S: Výzkum vztahů a společných vlastností spolehlivých a bezpečných architektur založených na programovatelných obvodech</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proc. of the 20th Euromicro Conference on Digital System Design
ISBN
978-1-5386-2146-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
360-363
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway, NJ
Místo konání akce
Vienna
Datum konání akce
30. 8. 2017
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000427097100051

Podobné výsledky(10)