Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Calibration of a Conventional X-ray Fluorescence Analyzer for Depth Profiling

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F15%3A00235304" target="_blank" >RIV/68407700:21340/15:00235304 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Calibration of a Conventional X-ray Fluorescence Analyzer for Depth Profiling

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The X-ray fluorescence analysis (XRF) is established as a technique for the determination of depth distribution of elements. In certain applications, the confocal modality cannot be used, there is a possibility of the conventional XRF. These applicationsare mostly performed in the research of cultural heritage objects where portable device for analysis is demanded. The Ka/Kb or La/M X-ray lines ratios where used for obtaining calibration diagrams of different depth distributions of the elements. The principle of the proposed Ka/Kb technique lies in the different absorption coefficients for the Ka and Kb lines. If an element is present at some depth, its characteristic radiation has to penetrate through thick layer of the matrix, and the characteristicX-ray fluxes are significantly changed. The depth of the layer can be described by K?/K? ratio of an element; i.e. lower ratio indicates deeper position. The experimental part includes measurements of standards of several elements from t

  • Název v anglickém jazyce

    The Calibration of a Conventional X-ray Fluorescence Analyzer for Depth Profiling

  • Popis výsledku anglicky

    The X-ray fluorescence analysis (XRF) is established as a technique for the determination of depth distribution of elements. In certain applications, the confocal modality cannot be used, there is a possibility of the conventional XRF. These applicationsare mostly performed in the research of cultural heritage objects where portable device for analysis is demanded. The Ka/Kb or La/M X-ray lines ratios where used for obtaining calibration diagrams of different depth distributions of the elements. The principle of the proposed Ka/Kb technique lies in the different absorption coefficients for the Ka and Kb lines. If an element is present at some depth, its characteristic radiation has to penetrate through thick layer of the matrix, and the characteristicX-ray fluxes are significantly changed. The depth of the layer can be described by K?/K? ratio of an element; i.e. lower ratio indicates deeper position. The experimental part includes measurements of standards of several elements from t

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/DF12P01OVV034" target="_blank" >DF12P01OVV034: Průzkum sbírkových předmětů z fondů NTM moderními fyzikálními a chemickými metodami s cílem zkvalitnit jejich restaurování a preventivní konzervaci.</a><br>

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů