Back-side pulse and cluster processing for particle traces measured by pixel detector

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F09%3A00166880" target="_blank" >RIV/68407700:21670/09:00166880 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Back-side pulse and cluster processing for particle traces measured by pixel detector
Popis výsledku v původním jazyce
Semiconductor pixel detector of ionizing radiation can detect traces of individual ionizing particles. These traces are seen as clusters of pixels with signal. The cluster shape is effected by charge sharing effect in detector and by particle properties.By proper analysis of cluster shape it is possible to determine the type, energy and in some cases even impact angle of the particle. The software can perform complex analysis and evaluation of measured traces.
Název v anglickém jazyce
Back-side pulse and cluster processing for particle traces measured by pixel detector
Popis výsledku anglicky
Semiconductor pixel detector of ionizing radiation can detect traces of individual ionizing particles. These traces are seen as clusters of pixels with signal. The cluster shape is effected by charge sharing effect in detector and by particle properties.By proper analysis of cluster shape it is possible to determine the type, energy and in some cases even impact angle of the particle. The software can perform complex analysis and evaluation of measured traces.

Projekt
<a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)