Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F11%3A00191950" target="_blank" >RIV/68407700:21670/11:00191950 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://aladdin.utef.cvut.cz/ofat/others/slit/index.html" target="_blank" >http://aladdin.utef.cvut.cz/ofat/others/slit/index.html</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

Popis výsledku v původním jazyce

The principle of this system is based on the use of a collimated parallel X-ray beam with a line profile, which delivers a defined charge at a specific location in 3D in the sensor. The beam can be sent onto the pixelated sensor at a low angle, which allows determining, for a given angle and detector position, the depth of interaction for each pixel. Shifting the detector along the axis perpendicular to the plane of the beam we can obtain a map of the detector response which is in 3D-i.e. both across the sensor plane and along its depth.

Název v anglickém jazyce

Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

Popis výsledku anglicky

The principle of this system is based on the use of a collimated parallel X-ray beam with a line profile, which delivers a defined charge at a specific location in 3D in the sensor. The beam can be sent onto the pixelated sensor at a low angle, which allows determining, for a given angle and detector position, the depth of interaction for each pixel. Shifting the detector along the axis perpendicular to the plane of the beam we can obtain a map of the detector response which is in 3D-i.e. both across the sensor plane and along its depth.

Druh

G_funk - Funkční vzorek

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

Štěrbina

Číselná identifikace

—

Technické parametry

7 stupňů volnosti, šířka štěrbiny jednotky mikrometrů

Ekonomické parametry

pořizovací náklady 100 000,- Kč

Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

—

IČO vlastníka výsledku

68407700

Název vlastníka

ČVUT ÚTEF

Stát vlastníka

CZ - Česká republika

Druh možnosti využití

P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

Požadavek na licenční poplatek

Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek

Adresa www stránky s výsledkem

—