Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F11%3A00191950" target="_blank" >RIV/68407700:21670/11:00191950 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://aladdin.utef.cvut.cz/ofat/others/slit/index.html" target="_blank" >http://aladdin.utef.cvut.cz/ofat/others/slit/index.html</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The principle of this system is based on the use of a collimated parallel X-ray beam with a line profile, which delivers a defined charge at a specific location in 3D in the sensor. The beam can be sent onto the pixelated sensor at a low angle, which allows determining, for a given angle and detector position, the depth of interaction for each pixel. Shifting the detector along the axis perpendicular to the plane of the beam we can obtain a map of the detector response which is in 3D-i.e. both across the sensor plane and along its depth.

  • Název v anglickém jazyce

    Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device

  • Popis výsledku anglicky

    The principle of this system is based on the use of a collimated parallel X-ray beam with a line profile, which delivers a defined charge at a specific location in 3D in the sensor. The beam can be sent onto the pixelated sensor at a low angle, which allows determining, for a given angle and detector position, the depth of interaction for each pixel. Shifting the detector along the axis perpendicular to the plane of the beam we can obtain a map of the detector response which is in 3D-i.e. both across the sensor plane and along its depth.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    Štěrbina

  • Číselná identifikace

  • Technické parametry

    7 stupňů volnosti, šířka štěrbiny jednotky mikrometrů

  • Ekonomické parametry

    pořizovací náklady 100 000,- Kč

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    68407700

  • Název vlastníka

    ČVUT ÚTEF

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

  • Požadavek na licenční poplatek

    Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem