Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Homogeneity study of a GaAs:Cr pixelated sensor by means of X-rays

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F18%3A00329980" target="_blank" >RIV/68407700:21670/18:00329980 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/13/04/P04002" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/13/04/P04002</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/13/04/P04002" target="_blank" >10.1088/1748-0221/13/04/P04002</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Homogeneity study of a GaAs:Cr pixelated sensor by means of X-rays

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Direct conversion semiconductor detectors have become an indispensable tool in radiation detection by now. In order to obtain a high detection efficiency, especially when detecting X or gamma rays, high-Z semiconductor sensors are necessary. Like other compound semiconductors GaAs, compensated by chromium (GaAs:Cr), suffers from a number of defects that affect the charge collection efficiency and homogeneity of the material. A precise knowledge of this problem is important to predict the performance of such detectors and eventually correct their response in specific applications. In this study we analyse the homogeneity and mobility-lifetime products (mu(e)tau(e)) of a 500 mu m thick GaAs:Cr pixelated sensor connected to a Timepix chip. The detector is irradiated by 23 keV X-rays, each pixel recording the number of photon interactions and the charge they induce on its electrode. The mu(e)tau(e) products are extracted on a per-pixel basis, using the Hecht equation corrected for the small pixel effect. The detector shows a good time stability in the experimental conditions. Significant inhomogeneities are observed in photon counting and charge collection efficiencies. An average mu(e)tau(e) of 1.0.10(-4) cm(2) V-1 is found, and compared with values obtained by other methods for the same material. Solutions to improve the response are discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Homogeneity study of a GaAs:Cr pixelated sensor by means of X-rays

  • Popis výsledku anglicky

    Direct conversion semiconductor detectors have become an indispensable tool in radiation detection by now. In order to obtain a high detection efficiency, especially when detecting X or gamma rays, high-Z semiconductor sensors are necessary. Like other compound semiconductors GaAs, compensated by chromium (GaAs:Cr), suffers from a number of defects that affect the charge collection efficiency and homogeneity of the material. A precise knowledge of this problem is important to predict the performance of such detectors and eventually correct their response in specific applications. In this study we analyse the homogeneity and mobility-lifetime products (mu(e)tau(e)) of a 500 mu m thick GaAs:Cr pixelated sensor connected to a Timepix chip. The detector is irradiated by 23 keV X-rays, each pixel recording the number of photon interactions and the charge they induce on its electrode. The mu(e)tau(e) products are extracted on a per-pixel basis, using the Hecht equation corrected for the small pixel effect. The detector shows a good time stability in the experimental conditions. Significant inhomogeneities are observed in photon counting and charge collection efficiencies. An average mu(e)tau(e) of 1.0.10(-4) cm(2) V-1 is found, and compared with values obtained by other methods for the same material. Solutions to improve the response are discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10303 - Particles and field physics

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/EF16_019%2F0000766" target="_blank" >EF16_019/0000766: Inženýrské aplikace fyziky mikrosvěta</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

    1748-0221

  • Svazek periodika

    13

  • Číslo periodika v rámci svazku

    P04002

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    13

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000429055400002

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85046637366