THE I-V CHARACTERISTIC COMPARISON METHOD IN ELECTRONIC COMPONENT DIAGNOSTICS

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F12%3A43869106" target="_blank" >RIV/70883521:28140/12:43869106 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

THE I-V CHARACTERISTIC COMPARISON METHOD IN ELECTRONIC COMPONENT DIAGNOSTICS

Popis výsledku v původním jazyce

I-V characteristics of individual electronic components or electronic circuits have been playing a very important role in diagnostics for many years. The latest technological advance has extended the analytical potential of that method even more. This paper presents some examples how the I-V characteristic comparison can reveal the differences between the chosen approved model component and some other alternative components manufactured by different producers. The differences might be caused also with atreatment history like thermal or electrostatic discharge exposition.

Název v anglickém jazyce

THE I-V CHARACTERISTIC COMPARISON METHOD IN ELECTRONIC COMPONENT DIAGNOSTICS

Popis výsledku anglicky

I-V characteristics of individual electronic components or electronic circuits have been playing a very important role in diagnostics for many years. The latest technological advance has extended the analytical potential of that method even more. This paper presents some examples how the I-V characteristic comparison can reveal the differences between the chosen approved model component and some other alternative components manufactured by different producers. The differences might be caused also with atreatment history like thermal or electrostatic discharge exposition.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0089" target="_blank" >ED2.1.00/03.0089: Centrum bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

XX IMEKO World Congress

ISBN

978-89-950000-5-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

"N"

Název nakladatele

IMEKO

Místo vydání

Busan

Místo konání akce

Busan

Datum konání akce

9. 9. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—