The effect of temperature gradient on the variation of surface topography and reflectivity of anisotropically etched silicon wafers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28610%2F17%3A63516123" target="_blank" >RIV/70883521:28610/17:63516123 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S092442471630646X" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S092442471630646X</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.sna.2017.05.019" target="_blank" >10.1016/j.sna.2017.05.019</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The effect of temperature gradient on the variation of surface topography and reflectivity of anisotropically etched silicon wafers
Popis výsledku v původním jazyce
A novel approach to wet etching of silicon wafers (100) is described in this study. Homogenous organized surface structures were prepared by the utilization of self-organized flow in the etching solution (Bénard-Marangoni thermocapillar instability). The driving force behind this process is a temperature gradient generated by the etching apparatus exclusively constructed for this research. The influences of temperature gradients (1–20 K) and etching time (20–55 min) were studied, with the potassium hydroxide/isopropyl alcohol etching solution. Obtained results indicate that self-organized flow can be utilized for specific and rapid etching, which allows significant variation of the topography and reflectivity of the silicon wafer surface textured in this way.
Název v anglickém jazyce
The effect of temperature gradient on the variation of surface topography and reflectivity of anisotropically etched silicon wafers
Popis výsledku anglicky
A novel approach to wet etching of silicon wafers (100) is described in this study. Homogenous organized surface structures were prepared by the utilization of self-organized flow in the etching solution (Bénard-Marangoni thermocapillar instability). The driving force behind this process is a temperature gradient generated by the etching apparatus exclusively constructed for this research. The influences of temperature gradients (1–20 K) and etching time (20–55 min) were studied, with the potassium hydroxide/isopropyl alcohol etching solution. Obtained results indicate that self-organized flow can be utilized for specific and rapid etching, which allows significant variation of the topography and reflectivity of the silicon wafer surface textured in this way.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LO1504" target="_blank" >LO1504: Centrum polymerních systémů plus</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Sensors and Actuators, A: Physical
ISSN
0924-4247
e-ISSN
—
Svazek periodika
262
Číslo periodika v rámci svazku
Neuveden
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
1-9
Kód UT WoS článku
000404491900001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85019872451