Rastrovací mikroskopie s velmi pomalými elektrony
Cíle projektu
Cílem projektu je realizovat rastrovací elektronový mikroskop s velmi pomalými elektrony (od nulové energie - zrcadlení - do energie desítek elektronvoltů), přičemž kontrast zobrazení vznikne úhlově a energiově selektivní detekcí signálních elektronů. Umožní to originální řešení optické soustavy využívající imersního objektivu s katodovou čočkou a separátoru primárního a signálního svazku elektronů se dvěma Wienovými filtry v antisymetrickém uspořádání. XXX XXX
Klíčová slova
Veřejná podpora
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
Program
Standardní projekty
Veřejná soutěž
—
Hlavní účastníci
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Druh soutěže
—
Číslo smlouvy
—
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy
Anotace anglicky
—
Vědní obory
Kategorie VaV
—
CEP - hlavní obor
JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví
CEP - vedlejší obor
BH - Optika, masery a lasery
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory
(dle převodníku)10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
20306 - Audio engineering, reliability analysis
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
—
Zhodnocení výsledků projektu
XXX
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 1994
Ukončení řešení
1. 1. 1995
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
—
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP/1996/GA0/GA06GA/V/1:1
Datum dodání záznamu
—
Finance
Celkové uznané náklady
270 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
1 190 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč
Základní informace
Uznané náklady
270 tis. Kč
Statní podpora
1 190 tis. Kč
440%
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
CEP
JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví
Doba řešení
01. 01. 1994 - 01. 01. 1995