Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Kvantitativní zobrazování v REM pomocí pružně rozptýlených elektronů

Cíle projektu

Hlavním cílem projektu je instrumentální vývoj a vytvoření metodiky pro kvantitativní zobrazování velmi tenkých vzorků pomocí detekce prošlých rozptýlených elektronů, která dodá přidanou hodnotu ke klasickému obrazu z vysokorozlišovacího rastrovacího elektronového mikroskopu (REM). To umožní jak měření hmotnosti či rozložení hmotnosti ve vzorku, tak současné vysokorozlišovací zobrazování. Tato měření vyžadují rozšíření komerčního vysokorozlišovacího REM se zachováním jeho současných funkcí. Kvantitativní zobrazování, které je založeno na detekci pružně rozptýlených elektronů, najde široké uplatnění ve studiu jednotlivých nanočástic či makromolekul. Pro snížení poškození senzitivních vzorků elektronovým svazkem bude využito mrazových metod. Projekt bude užitečný pro získávání strukturálních a biofyzikálních parametrů ve vědách o živé i neživé přírodě.

Klíčová slova

quantitativeimaging scanningtransmissionelectronmicroscopy (STEM) annulardark-fielddetector singleelectroncounting thicknessmapping molecularmass

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 18 (SGA0201400001)

  • Hlavní účastníci

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    14-20012S

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Quantitative imaging in SEM with elastically scattered electrons

  • Anotace anglicky

    The main goal of the proposed project is focused on the instrumental development and establishment of the methods for quantitative imaging of very thin specimens by transmitted scattered electrons. This technique will greatly improve classical image which is acquired by a scanning electron microscope (SEM). This will enable on one hand measurement of a mass of imaged nanoparticles or a thickness mapping, and on the other hand simultaneously a high resolution imaging. It requires an extension of a commercial high-resolution SEM without any restriction of its inherent features. The aimed quantitative studies utilize elastically scattered electrons and are applied to individual nanoparticles or macromolecules to measure their total mass, mass distribution and mass-thickness mapping. In order to lower the electron beam damage of sensitive samples, it is necessary to use cryo-techniques that will be adapted for quantitative imaging. Obtained results will greatly aid in structural and biophysical parameters in both life and material sciences.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • CEP - vedlejší obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • CEP - další vedlejší obor

    JD - Využití počítačů, robotika a její aplikace

  • OECD FORD - odpovídající obory
    (dle převodníku)

    20201 - Electrical and electronic engineering
    20204 - Robotics and automatic control
    20205 - Automation and control systems
    20206 - Computer hardware and architecture

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Projekt byl zaměřen na instrumentální vývoj a vytvoření metodiky pro kvantitativní zobrazování velmi tenkých vzorků pomocí detekce prošlých rozptýlených elektronů. Byl připraven STEM detektor založený na velmi rychlém scintilátoru, což umožňuje počítat jednotlivé elektrony při velmi nízkých proudech elektronového svazku. Byly vyvinuty softwarové balíky pro zpracování dat.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2014

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2016

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    5. 4. 2016

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP17-GA0-GA-U/03:1

  • Datum dodání záznamu

    28. 6. 2017

Finance

  • Celkové uznané náklady

    6 874 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    6 874 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč