Kvantitativní zobrazování v REM pomocí pružně rozptýlených elektronů

Název projektu anglicky
Quantitative imaging in SEM with elastically scattered electrons
Anotace anglicky
The main goal of the proposed project is focused on the instrumental development and establishment of the methods for quantitative imaging of very thin specimens by transmitted scattered electrons. This technique will greatly improve classical image which is acquired by a scanning electron microscope (SEM). This will enable on one hand measurement of a mass of imaged nanoparticles or a thickness mapping, and on the other hand simultaneously a high resolution imaging. It requires an extension of a commercial high-resolution SEM without any restriction of its inherent features. The aimed quantitative studies utilize elastically scattered electrons and are applied to individual nanoparticles or macromolecules to measure their total mass, mass distribution and mass-thickness mapping. In order to lower the electron beam damage of sensitive samples, it is necessary to use cryo-techniques that will be adapted for quantitative imaging. Obtained results will greatly aid in structural and biophysical parameters in both life and material sciences.

Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
CEP - vedlejší obor
JC - Počítačový hardware a software
CEP - další vedlejší obor
JD - Využití počítačů, robotika a její aplikace
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
20201 - Electrical and electronic engineering<br>20204 - Robotics and automatic control<br>20205 - Automation and control systems<br>20206 - Computer hardware and architecture

Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Projekt byl zaměřen na instrumentální vývoj a vytvoření metodiky pro kvantitativní zobrazování velmi tenkých vzorků pomocí detekce prošlých rozptýlených elektronů. Byl připraven STEM detektor založený na velmi rychlém scintilátoru, což umožňuje počítat jednotlivé elektrony při velmi nízkých proudech elektronového svazku. Byly vyvinuty softwarové balíky pro zpracování dat.

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP17-GA0-GA-U/03:1
Datum dodání záznamu
28. 6. 2017

Podobné projekty(10)