Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin ?lms

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F03%3A%230000326" target="_blank" >RIV/00177016:_____/03:#0000326 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin ?lms

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper, the theoretical analysis of the in?uence of ?nite linear dimensions of an atomic force microscope tip on pro?les of the upper boundaries of columnar thin ?lms and their statistical quantities is performed. This analysis is based on a numerical evaluation of the main statistical quantities, i.e. the standard deviations of the heights and slopes, one-dimensional distributions of the probability density of heights and slopes and power spectral density function, corresponding to a simulated columnar structure of the thin ?lms. It is shown that the strongest misrepresentation of the measured pro?les of the upper boundaries of the columnar ?lms originates in the cases when the linear dimensions of the columns are smaller or comparable with thelinear dimensions of the tip. Further, it is shown that using a surface reconstruction procedure one can correct (improve) the boundary pro?les and their statistical quantities partially.

  • Název v anglickém jazyce

    Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin ?lms

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper, the theoretical analysis of the in?uence of ?nite linear dimensions of an atomic force microscope tip on pro?les of the upper boundaries of columnar thin ?lms and their statistical quantities is performed. This analysis is based on a numerical evaluation of the main statistical quantities, i.e. the standard deviations of the heights and slopes, one-dimensional distributions of the probability density of heights and slopes and power spectral density function, corresponding to a simulated columnar structure of the thin ?lms. It is shown that the strongest misrepresentation of the measured pro?les of the upper boundaries of the columnar ?lms originates in the cases when the linear dimensions of the columns are smaller or comparable with thelinear dimensions of the tip. Further, it is shown that using a surface reconstruction procedure one can correct (improve) the boundary pro?les and their statistical quantities partially.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Ultramicroscopy

  • ISSN

    0304-3991

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    94

  • Číslo periodika v rámci svazku

    11

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus