Coplanar grazing exit X-ray diffraction on thin polycrystalline films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F09%3A00206543" target="_blank" >RIV/00216208:11320/09:00206543 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Coplanar grazing exit X-ray diffraction on thin polycrystalline films

Popis výsledku v původním jazyce

X-ray powder diffraction analysis in the coplanar grazing exit (GE) parallel beam geometry was tested on thin polycrystalline TiO2 films with the aid of a laboratory diffractometer. Peak position, width and intensity were simulated by a model accountingfor the effects of refraction, scattering in the layered sample, absorption and instrumental effects related to the grazing exit geometry. A model of absorption-induced peak broadening close to the critical angle was created. Measured data for a series of samples with different thicknesses were successfully fitted by the model. It is shown that the grazing exit coplanar diffraction is a suitable technique for thin films analysis in particular because of its flexible spatial and angular resolution.

Název v anglickém jazyce

Coplanar grazing exit X-ray diffraction on thin polycrystalline films

Popis výsledku anglicky

X-ray powder diffraction analysis in the coplanar grazing exit (GE) parallel beam geometry was tested on thin polycrystalline TiO2 films with the aid of a laboratory diffractometer. Peak position, width and intensity were simulated by a model accountingfor the effects of refraction, scattering in the layered sample, absorption and instrumental effects related to the grazing exit geometry. A model of absorption-induced peak broadening close to the critical angle was created. Measured data for a series of samples with different thicknesses were successfully fitted by the model. It is shown that the grazing exit coplanar diffraction is a suitable technique for thin films analysis in particular because of its flexible spatial and angular resolution.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Zeitschrift für Kristallographie

ISSN

0044-2968

e-ISSN

—

Svazek periodika

Neuveden

Číslo periodika v rámci svazku

Suppl. 30

Stát vydavatele periodika

DE - Spolková republika Německo

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000274650000024

EID výsledku v databázi Scopus

—