Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F11%3A10105892" target="_blank" >RIV/00216208:11320/11:10105892 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://iopscience.iop.org/1742-6596/303/1/012012" target="_blank" >http://iopscience.iop.org/1742-6596/303/1/012012</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/303/1/012012" target="_blank" >10.1088/1742-6596/303/1/012012</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case
Popis výsledku v původním jazyce
We have characterized UFe2+x films prepared by sputter deposition onto fused silica (SiO2) and Si(111) substrates with the film thickness ranging from 75 nm to 900 nm. The Xray diffraction results showed an amorphous character of the deposited material.Some of the films showed in addition a pattern of highly textured cubic Laves phase. Rutherford Backscattering Spectroscopy with 2 MeV He+ ions has been used to determine the composition, thickness and concentration depth profile of the films. A large ageing affect was observed within 1 month after that the films were exposed to air. Magnetic measurements revealed TC increasing with relative Fe concentration and reaching approx. 450 K in UFe3.0.
Název v anglickém jazyce
Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case
Popis výsledku anglicky
We have characterized UFe2+x films prepared by sputter deposition onto fused silica (SiO2) and Si(111) substrates with the film thickness ranging from 75 nm to 900 nm. The Xray diffraction results showed an amorphous character of the deposited material.Some of the films showed in addition a pattern of highly textured cubic Laves phase. Rutherford Backscattering Spectroscopy with 2 MeV He+ ions has been used to determine the composition, thickness and concentration depth profile of the films. A large ageing affect was observed within 1 month after that the films were exposed to air. Magnetic measurements revealed TC increasing with relative Fe concentration and reaching approx. 450 K in UFe3.0.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Physics: Conference Series
ISSN
1742-6588
e-ISSN
—
Svazek periodika
303
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
012012, 1-8
Kód UT WoS článku
000299084800012
EID výsledku v databázi Scopus
—