Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F11%3A10105892" target="_blank" >RIV/00216208:11320/11:10105892 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://iopscience.iop.org/1742-6596/303/1/012012" target="_blank" >http://iopscience.iop.org/1742-6596/303/1/012012</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/303/1/012012" target="_blank" >10.1088/1742-6596/303/1/012012</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We have characterized UFe2+x films prepared by sputter deposition onto fused silica (SiO2) and Si(111) substrates with the film thickness ranging from 75 nm to 900 nm. The Xray diffraction results showed an amorphous character of the deposited material.Some of the films showed in addition a pattern of highly textured cubic Laves phase. Rutherford Backscattering Spectroscopy with 2 MeV He+ ions has been used to determine the composition, thickness and concentration depth profile of the films. A large ageing affect was observed within 1 month after that the films were exposed to air. Magnetic measurements revealed TC increasing with relative Fe concentration and reaching approx. 450 K in UFe3.0.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of U-based thin films: the UFe(2+x) case

  • Popis výsledku anglicky

    We have characterized UFe2+x films prepared by sputter deposition onto fused silica (SiO2) and Si(111) substrates with the film thickness ranging from 75 nm to 900 nm. The Xray diffraction results showed an amorphous character of the deposited material.Some of the films showed in addition a pattern of highly textured cubic Laves phase. Rutherford Backscattering Spectroscopy with 2 MeV He+ ions has been used to determine the composition, thickness and concentration depth profile of the films. A large ageing affect was observed within 1 month after that the films were exposed to air. Magnetic measurements revealed TC increasing with relative Fe concentration and reaching approx. 450 K in UFe3.0.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Physics: Conference Series

  • ISSN

    1742-6588

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    303

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    012012, 1-8

  • Kód UT WoS článku

    000299084800012

  • EID výsledku v databázi Scopus